规格型号：TiX640

生产厂家：美国Fluke（福禄克）公司

（一）主要用途

该红外热成像仪可对物体表面温度场进行测试，测试生成物体表面温度分布云图，可对所测问题表面温度场云图保存，结合所配专业软件还可对云图进行编辑、处理获得最高温度、最低温度、平均温度等数据。同时该红外热成像仪还可以对问题表面温度的瞬态变化进行记录，结合软件可对表面温度的瞬态变化规律进行分析。

（二）设备配置和主要指标

1.红外热成像仪由主机、电源适配器、电池充电装置、FC SD卡、SD卡读卡器等构成；

2.图像质量IFOV（空间分辨率）：0.8 mRad；

3.图像分辨率（像素）：640×480（307200 像素）；

4.热敏度 (NETD)：30 °C 目标温度时，≤ 0.03 °C (30 mK)；

5.光谱范围：7.5～14 µm；

6.温度测量量程：-40～+1200 ℃；

7.温度测量精度：±1.5 °C 或 ±1.5 %；

8.图像/数据传输接口：热像仪数据端口支持：图像传输：SD卡、USB2.0、视频输出 DVI-D (HDMI)；

9.工作温度：-25～ +55 °C；

10.存储温度：-40～ +70 °C；

11.湿度：相对湿度 10%～ 95%，无冷凝；

12.防护等级：IP54；

13.尺寸（含30 mm标准镜头）：206 mm×125 mm×139 mm (8.1 in×4.9 in×5.5 in)；

14.重量（含标准30 mm镜头）：1.4 kg (3.2 lb)；

15.测量功能（选择）：多个测量点和目标区域（ROI）、热点/冷点探测、等温线、剖面图、区别。